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MB4S探頭

產(chǎn)品時間:2024-07-08

簡要描述:

貝克休斯BakerHughes德國KK美國GE MB4S探頭/MB4S-E軟膜直探頭/縱波單晶探頭/超聲波探頭/MB4S-EN超聲波探傷儀探頭,頻率:4MHZ,側裝,帶寬:25,晶片直徑:10mm。用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷、鍛件、鑄件、金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料、板材、棒材、方形材、容器、機器零件、殼體探傷檢測

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貝克休斯BakerHughes德國KK美國GE MB4S探頭


MB4S探頭


MB4S探頭


探頭選擇準則與性能說明:


接觸法探頭

直探頭---單晶

• 被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的 接觸表面

• 接觸面或平或曲

• 缺陷或背反射平行于表面,可被垂 直于表面的聲束探測

• 適于穿透厚部件

• 延遲塊用以提高近場分辨率

• 需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊

• 通常用于手動檢測


直探頭---雙晶

• 接受發(fā)射單元用串擾擋板分開

• 缺陷或背反射平行于表面,可被垂 直于表面的聲束探測

• 近表面分辨率好,用于較薄部件

• 需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊

• 通常用于手動檢測


斜探頭

• 晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上

• 利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播

• 大多數(shù)標準探頭通過模式轉換產(chǎn)生橫波

• 適于傾斜缺陷的檢測,如焊縫

• 有單晶探頭和雙晶探頭

• 需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊

• 有時用于機械化或自動化檢測


水浸法探頭

• 在水中匹配好,效率高

• 適于具有不規(guī)則表面的被檢測件

• 通常用于機械化或者自動化檢測

• 耦合一致性好,檢測重復性高

• 大型零件可以采用探頭架, 溢流法或者水射流法

• 探頭聚焦可以增進效果聚焦的優(yōu)點

• 球面聚焦形成點狀

• 柱面聚焦形成線狀


探頭選擇準則—歐洲規(guī)格

按照歐洲標準生產(chǎn)的探頭, 本目錄提供的技術性能信息依照下表定義。 絕大多數(shù)的探傷儀探頭都免費提供性能數(shù)據(jù)表。

性能參數(shù)

解釋

晶片尺寸 D 或 a ×b

探頭晶片的直徑D或長度×寬度a ×b 。它的尺寸大小對聲波的傳輸有極大的影響 。輕微的偏差,如形狀的偏差,或粘接不良造成的位置偏差而產(chǎn)生的聲能衰減,即使是利用參考缺陷進行標定,都將產(chǎn)生嚴重的評估誤差。

標稱頻率f

所有相同類型探頭的均值頻率,頻率對反射體的評定有大的影響 。對斜反射體,頻率甚至影響聲場 波形和反射特性 。隨著頻率的增加,非垂直反射體對聲束的反射回波減小 。這就是為什么每一個探頭都要由我們的質量控制部門根據(jù)鑒定標準進行嚴格檢測,以確定其頻率是否與標稱頻率相一致,保證在一定的誤差范圍內。這個數(shù)據(jù)輸入到探頭的數(shù)據(jù)參數(shù)表。

帶寬B

脈沖回波的幅值比最高幅值下降6dB之間的頻率范圍。

fo=幅值下降6dB的上限頻率,fu=幅值下降6dB的下限頻率,f為標稱頻率。 例如,當B=100%, 一個4 MHz的探頭的fo為6 MHz,而fu為2 MHz。

大的帶寬意味著更短的脈沖回波,也就意味著高的分辨率和更好的穿透能力, 因為低頻脈沖比標稱頻 率脈沖的衰減小 。在高衰減情形下,與標稱頻率相比,隨著距離的增加,反射信號的頻率減小 。這一 點在進行缺陷評估時必須要加以考慮 。因此每一個探頭的帶寬都要進行檢查,并且與所有探頭的平均值相一致,保證在一定的誤差范圍內。

焦距F

F :小缺陷產(chǎn)生蕞大回波時探頭到小缺陷的距離。探頭要進行聚焦以便探測小缺陷并得到蕞大的回波幅值,只有在探頭的近場才可能聚焦。

近場長度N

近場長度N是非聚焦探頭的焦距長度,它是聲軸線上能得到聲壓ji大值的最遠距離 。N的大小由D 、c 和f來決定 。

其中λ為波長,c為聲速, Deff是單元有效直徑

焦點處和近場長度處聲能最為集中,反射體最易識別。因此重要測試場合一般預期缺陷在焦距或近場長度處。表中的數(shù)據(jù)對鋼材而言,而水浸探頭為水。

焦點直徑FD6

在焦距或近場長度附近,聲壓值比主聲軸下降6dB處到主聲軸的距離 。

脈沖形狀

來自于平面反射面的信號表述。

頻譜

回波脈沖中所有頻率的顯示,頻率幅值在頻率上顯示。

聲束角度 β

主聲束與檢測面法線之間的夾角








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